1、儀器校準：

零位調整后，接著對儀器進行量值校準，校準時校準塊的幾何條件；觀測角α=0.2°；入射角β₁=0°β₂=0°。校準步驟如下：

1.1將主機從底板(12)上移開,在底板(12)的試樣角度板(13)上放置校準塊(15),其被測面前端應與試樣角度板(13)的凸起邊靠齊；

1.2轉動試樣角度板（13），使其刻線對準底板（12）上的入射角刻度（14）上的0（即β₂=0°）；

    1.3將主機按2.2條的方法重新放置到底板（12）上；

    1.4調節觀測角調節器（1），至0.2°（即α=0.2°）；

1.5按下測量開關（5），約預熱1－2分鐘后觀察數顯表（7）的讀數，待讀數穩定后，即可讀出發光強度系數值 R。此值應與校準塊所給定的值相等。若不相等，則需調節校準旋鈕（6），使顯示值等于校準塊的給定值。此時儀器已校準完畢，即可進行測量。

隨著電子系統越來越朝著多功能、更高性能和更小封裝的趨勢發展，系統散熱問題日漸成為設計環節中必須考慮的因素。系統過熱會降低性能

，損壞元件或產生安全隱患。所以使用的時候要注意散熱，做好防御措施，防患于未然。